Exquis T4全譜直讀光譜儀

Exquis T4全譜直讀光譜儀采用了光室密封循環充系統，高分辨率的CMOS 全譜檢測技術，使得儀器既有緊湊流線的外觀設計，同時具有極佳的分析性能。可用于鑄造、來料檢驗、質量控制、廢品回收等金屬材料及金屬產品分析的各個方面。

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技術參數

TECHNICAL PARAMETERS

光學系統	光學結構	帕型-龍格羅蘭圓全譜真空型光學系統
激發臺	電極分析間隙氬氣流量	鎢材噴射電極 4mm 激發流量約3.5L/min，待機流量約0.1L/min




激發光源	光源類型放電頻率放電電流	數字光源，高能預燃技術（HEPS） 100-1000HZ 最大400A




數據采集系統	探測器其他功能	高性能CMOS陣列光室溫度，軟件自動控制壓力，通訊監測

性能指標	可檢測基檢測時間體	Fe，Al，Cu，Zn，Ni，Mg，Ti，Pb，Sn 依據樣品類型而定，一般20S左右
電源功耗	工作電源工作功率	AC220V 50/60Hz 400W



尺寸與重量	主機尺寸重量	520650320mm 約45Kg

INSTRUMENT FEATURES

智能可靠的全數字光源
采用可編程脈沖合成全數字光源，性能卓越且免維護。適用于各種合金材料的激發，有效提升分析精度。
穩定充氬光室設計
充氬氣凈化光室，斷電斷氣自動密閉功能，無真空泵帶來的噪音和油污風險光學室內部恒溫、恒壓確保光學系統不受外界環境變化和影響
個性化的樣品夾具
可配置萬能小樣品夾具，針對1.2mm-13mm不同直徑樣品的分析也可以配置氮化硼墊片，適合6mm以上樣品的直接分析靈活適應不同幾何形狀的大/小樣品分析需求。
人性化的一鍵激發
樣品裝載與激發流程簡化，一鍵操作直接獲取結果。適應工廠檢測環境，顯著提升工作效率。
實時智能漂移校正技術
分析過程中實時進行光譜漂移校正，增強儀器穩定性。減少標準化校正次數，延長校正周期，簡化操作流程。
智能曲線分析
智能曲線功能滿足基體內材料分析需求。智能鏈接適當曲線模型，獲得更準確的分析結果。簡化未知樣品分析流程，無需糾結模型選擇。

PRODUCT APPLICATION